非接觸式光學輪廓儀Taylor Hobson

• 更新時間：2019-08-01
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非接觸式光學輪廓儀Taylor Hobson
CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。

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無論對分析速度的要求有多高，我們創新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。

CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的專業知識保持與時俱進，能滿足光學領域的嚴苛測量要求。 CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI*的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學工業而設計的出色計量包裝 。

  ● 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
  ● 全量程0.1埃的分辨率
  ● 輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
  ● RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
  ● 多語言版本的64位控制和分析軟件

良好的光學干涉測量技術
 • 非壓電陶瓷閉環Z軸掃描控制，2.2毫米掃描范圍
 • 改進后的拼接功能，使Z軸量程可達100毫米
 • 1024  x  1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場
 • 增強了角度靈敏度，能夠得到更好的測量數據

從實質上消除測量的不確定性
 • RMS重復性小于0.2埃，臺階高度重復性小于0.1%
  • 整個測量量程有著0.1埃分辨率
 • FEA優化機械設計，具備出色的R&R能力
 • 采用ISO標準的校準，確保結果的可信度

高性能的CCI MP是科研和制造*的測量手段。

大量程、高分辨率、高準確性和高可靠性–取得成功的四大要素
無論哪種零件、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測量結果的準確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭，可對極為粗糙到非常光滑的所有表面進行細致全面的分析。功能豐富–可隨時用于生產運營或研究項目時刻與研發人員和科學家的專業技術同步發展，CCI       MP能夠滿足包括太陽能、光學和醫療器械等領域提出的苛刻的測量要求。高級數據拼接功能拓展了儀器的可測量范圍。

使用的簡便性可減少操作員的培訓成本
即便不常使用，也無需對操作員重新進行培訓和指導。CCI    MP的設計便于科學家、學生、開發人員或生產檢查人員使用。CCI MP的創新功能如自動量程和自動條紋尋找等，可以簡化樣品的調整過程。為用戶節省時間、減少錯誤并快速得出所需結果。

完整的平臺簡化ISO-17025的集成
 不需要增加程序的復雜性就可使用戶的分析能力得到極大提高。也不需要測量模式間進行復雜的切換，以及測量過程中校準鏡頭，就可以測量多種多樣零件和表面。標準化的模式、程序和報告功能，使CCI MP可輕松集成到用戶的質量管理系統。

篤摯儀器（上海）有限公司專業代理英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等，篤摯技術服務部與匯聚資源的合作品牌一起，以共同對計量及試驗技術的專注和專業，致力于在質量檢測領域，為客戶提供區域化和化的廣泛而的技術支持服務，確保操作和維護儀器的總體有效性和成本優化，增強您測量和檢測的可靠性和性能。